CLARA 是一款應用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的S8000 基礎上進一步研發(fā)的，其設計更能滿足材料科學的需求，適用于對各種不同類型材料的分析和表征。
CLARA 的分辨率可以達到亞納米級別，能夠揭示材料細微的結構。 TESCAN 獨特的 Wide Field Opticls? 技術幫助您在大視野下全方面了解樣品的構成（最小放大倍數可至2倍），從而快速定位感興趣的區(qū)域。
TESCAN CLARA 在低電壓下仍保持了出色的分辨率，因而不僅適用于樣品極表面進行形貌觀察，同時也是表征光敏樣品和非導電樣品的理想選擇。 TESCAN CLARA ，不僅在低電壓下?lián)碛辛己玫姆直媛?，而且能夠通過選擇二次電子和背散射電子的不同襯度，來探索樣品可能包含的大量信息，因而是分析測試中心或材料科學研究實驗室的理想選擇。
新一代的電子光學和成像技術使 CLARA 成為任何分析測試中心，材料表征實驗室或工業(yè)檢測實驗室必不可少的設備。直觀，模塊化的用戶界面可根據每個操作員的需求進行定制，可以有效的提高工作效率。預設程序和良好成像條件可以幫助新手用戶輕松獲得高質量的圖像，并盡可能協(xié)助其完成能力范圍內可操作的功能。
適用領域
材料科學：鋼鐵及合金、陶瓷及硬質涂層、玻璃、聚合物及復合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張
生命科學：生物醫(yī)學工程、細胞&組織形態(tài)學、微生物學、制藥技術、植物和動物科學、亞細胞分析、環(huán)境和食品科學
地球科學：巖石學 & 礦物學、古生物學、礦物加工、石油 & 天然氣、廢物回收
主要特點
? 獨特的鏡筒內 BSE 探測器設計可以根據能量和角度不同選擇信號
鏡筒內 BSE 探測器所安裝的特殊位置使得它可以同時采集不同 “出射”角度的背散射電子（BSE）。 Axial BSE 探測器收集近軸背散射電子信號，而 Multidetector（BSE）則收集中角背散射電子信號， 這兩個信號是明顯不同的。 通過 Axial BSE 探測器我們可以抑制不希望看到的由于樣品的表面形貌引起的干擾，從而觀察到良好的材料成分襯度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射電子，獲得既有成分襯度又有形貌襯度的圖像，但更凸顯表面形貌的特點。 Multidetector 配有一個能量過濾器，可以實現二次電子信號和背散射電子信號的能量過濾，以便增強背散射電子的襯度。
? 電子束敏感樣品和非導電樣品的理想選擇
良好的鏡筒和探測器系統(tǒng)的一體設計，無需施加樣品減速偏壓，即可實現電子束 50 eV 的低著陸能量，避免了樣品產生損傷和荷電效應，并實現出色的成像性能，是觀察各種不導電樣品的理想選擇。
? 電子束的快速設置 – 實現良好的成像和分析條件
EquiPower? 透鏡技術可實現高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。同時結合使用了實時電子束實時優(yōu)化技術，使 TESCAN CLARA 能夠在全部束流范圍下獲得優(yōu)異的高分辨率圖像和（EDS / EBSD）分析能力。
? 無需光學導航相機，利用低倍率實時SEM圖像實現直觀、精確的導航
先進的 Wide Field Optics? 技術以及雙物鏡的設計，實現不失真的大視場觀察并具有多種成像模式。 成像模式間的切換和高、低倍圖像的切換僅需一次鼠標點擊即可獲得。
? 無漏磁超高分辨透鏡，低電壓下實現材料表面形貌細節(jié)的高靈敏表征
BrightBeam? 鏡筒實現無漏磁超高分辨率成像能力，對包括磁性樣品在內的各類樣品具有廣泛的適用能力。
? 模塊化Essence? 軟件，直觀易用，不同技術水平的用戶，均可輕松操作
TESCAN Essence? 軟件使操作電鏡變得容易簡單， 簡化且符合用戶習慣的操作界面大大提升了工作效率。 操作人員可以通過簡單的搜索就可以輕松訪問所有功能模塊，并可將功能模塊拖放到顯示屏上。 此外，任何等級的操作員都可以輕松地將電鏡的設置恢復為之前的條件或導航到之前的區(qū)域。 先進的實時3D碰撞模型可防止樣品移動過程中可能發(fā)生的危險動作。
