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高度集成、旋進(jìn)輔助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速電壓、近超高真空的集成 4D-STEM, 用于對(duì)功能材料、薄膜、天然和合成顆粒的納米級(jí)形態(tài)、化學(xué)和結(jié)構(gòu)特性進(jìn)行多模態(tài)表征,具有出色的 4D-STEM 性能和良好的普遍適用性。 測(cè)量功能: TESCAN TENSOR 為材料科學(xué)家、半導(dǎo)體研發(fā)和失效分析人員以及晶體學(xué)家提供了眾多已預(yù)設(shè)的STEM、4D- STEM和斷層掃描測(cè)量的參數(shù): ? STEM BF, ADF 和 HAADF 成像 性能: TESCAN 從零開(kāi)始開(kāi)發(fā)了全新的 TENSOR,優(yōu)化了STEM 掃描的同步功能: ? 混合像素的直接電子衍射相機(jī)衍射成像 可用性: TESCAN TENSOR 是一臺(tái)可以像掃描電鏡一樣易于使用的掃透電鏡(STEM)。它可以讓使用者把時(shí)間花在樣品分析上,而不是浪費(fèi)于參數(shù)調(diào)整。新手用戶只需要最少時(shí)間的訓(xùn)練,就能很快獲得結(jié)果。有經(jīng)驗(yàn)的用戶可以使用選配的 API 開(kāi)發(fā)適合自己的測(cè)量功能,并通過(guò) HyperSpy、LiberTEM 或? Py4DSTEM 等開(kāi)放平臺(tái)的解決方案導(dǎo)出 TENSOR 4D- STEM 的數(shù)據(jù)集進(jìn)行離線處理。 |
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